Diatest塞規(guī)式孔徑測量儀BMD測頭選型介紹德國Diatest公司于1948年由Hermann Költgen先生創(chuàng)辦，總部坐落在達(dá)姆施塔特，Diatest用戶更是遍布世界各地。

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4系列標(biāo)準(zhǔn)型電子塞規(guī)產(chǎn)品簡介：DIATEST塞規(guī)式測量系統(tǒng)*的導(dǎo)向體設(shè)計(jì),保證了測量結(jié)果的可靠性,解決了孔徑測量的對(duì)中難題,減少了人為因素對(duì)測量結(jié)果的影響,可方便、快速、準(zhǔn)確得出測量結(jié)果。

6系列通孔兩點(diǎn)式塞規(guī)產(chǎn)品簡介：DIATEST塞規(guī)式測量系統(tǒng)*的導(dǎo)向體設(shè)計(jì),保證了測量結(jié)果的可靠性,解決了孔徑測量的對(duì)中難題,減少了人為因素對(duì)測量結(jié)果的影響,可方便、快速、準(zhǔn)確得出測量結(jié)果。

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